掃描透射電子顯微鏡(STEM)由于其高分辨率和多樣的探測能力，適用于多種類型的樣品分析。以下是STEM適用的一些主要樣品類型及其應(yīng)用場景：

　　1. 納米材料

　　金屬與合金納米顆粒：研究納米尺度下的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷及界面現(xiàn)象。

　　碳納米管、石墨烯及其他二維材料：觀察這些材料的原子排列及其在不同條件下的行為變化。

　　2. 半導(dǎo)體材料

　　集成電路：檢查芯片內(nèi)部的細(xì)微結(jié)構(gòu)，如晶體管尺寸、連線布局等，有助于研發(fā)和故障分析。

　　量子點(diǎn)：評估這些納米級半導(dǎo)體粒子的大小、形狀及其光學(xué)特性。

　　3. 生物樣品

　　生物大分子：例如蛋白質(zhì)、DNA等，在適當(dāng)?shù)闹茦訔l件下(如冷凍電鏡技術(shù))，可以觀察到單個(gè)分子的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。

　　細(xì)胞切片：通過超薄切片技術(shù)制備的細(xì)胞或組織樣本，用于研究細(xì)胞器結(jié)構(gòu)和細(xì)胞內(nèi)成分分布。

　　4. 催化劑

　　催化劑顆粒：分析催化劑的微觀結(jié)構(gòu)和活性位點(diǎn)，了解其催化機(jī)理及性能優(yōu)化方向。

　　5. 能源材料

　　電池材料：包括鋰離子電池中的正負(fù)極材料，用于研究充放電過程中的結(jié)構(gòu)變化及老化機(jī)制。

　　燃料電池膜電極組件：評估質(zhì)子交換膜及其相關(guān)電極材料的微觀結(jié)構(gòu)對性能的影響。

　　6. 地球科學(xué)與礦物學(xué)

　　礦物顆粒：分析巖石和礦物中的微量元素分布及其晶格缺陷，有助于地質(zhì)年代測定和礦床評價(jià)。

　　樣品準(zhǔn)備注意事項(xiàng)

　　為了獲得高質(zhì)量的STEM圖像，樣品通常需要滿足以下條件：

　　厚度：對于大多數(shù)STEM應(yīng)用，樣品需要足夠薄以允許電子穿透，一般要求厚度在幾十納米以內(nèi)。

　　清潔度：避免表面污染影響成像質(zhì)量。

　　穩(wěn)定性：樣品在高能電子束照射下需保持穩(wěn)定，不易發(fā)生損壞或變形。

　　結(jié)合其他技術(shù)

　　STEM常與其他分析技術(shù)結(jié)合使用，以提供更多維度的信息：

　　能量色散X射線光譜(EDS)：用于元素分布分析。

　　電子能量損失譜(EELS)：提供關(guān)于元素種類及其化學(xué)狀態(tài)的詳細(xì)信息。

　　三維重構(gòu)技術(shù)：通過對傾斜系列圖像進(jìn)行處理，實(shí)現(xiàn)樣品的三維可視化。